基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有高分辨率（160x120测量点）。确保非常 的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。

         

    SID4-HR      

             

光学器件测量 

                、

自适应光学

 

特点：

由于其 的专利技术，Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点：

1.高分辨率：160x120测量点

2.高数值孔径测量：无需转镜头

3.消色差：1.5-1.6μm

4.结构紧凑：易于集成于光学系统

 

应用：

SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于尊龙人生就是搏网站领域或光谱和夜视设备。

镜头表征：实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线。

光学设备校准：它提供了一个非常准确的像差测量。

SID4 NIR产品参数：

波长范围	1500 - 1600 nm
通光孔径	3.6 x 4.8 mm2
空间分辨率	29.6 µm
采样点（相位/强度）	160 x 120 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度	< 11 nm RMS
相位精度	15 nm RMS
动态范围	~
采样频率	> 60 fps
实时分析频率	> 10 fps (full resolution)
数据接口	Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)	44 x 33 x 57.5 mm
重量	~250 g