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深圳市博森源电子有限公司

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经营模式: 生产制造

所在地区: 广东省  深圳市

认证信息: 工商注册信息

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半导体封装测试设备led推拉力测试机

图片审核中 半导体封装测试设备led推拉力测试机
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半导体封装测试设备led推拉力测试机

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价格 面议
起批量 1
供货总量 999台
产地 广东省/深圳市
发货期 自买家付款之日起3天内发货
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产品详情

“半导体封装测试设备led推拉力测试机”参数说明

是否有现货: 品牌: 博森源
类型: 智能拉力试验机 加工定制:
测量范围: 100(KN) 拉伸空间: 200(mm)
最大负荷: 20kg 拉伸速度: 30-400(mm/min)
测量精度: 0.25% 型号: 8100A
规格: 650*600*760mm 包装: 纸箱
质保: 2年 产量: 999

“半导体封装测试设备led推拉力测试机”详细介绍

半导体封装测试设备led推拉力测试机基本介绍
对LED封装,半导体行业金线材料进行拉伸力学试验的高精度试验设备,金线是一种贵重金属材料,试样很小,力量很小,并且测试精度要求很高,因此拉力测试机机台要求很高,测试过程中不能有半点漂移,就会直接影响到测试结果。目前国内没有一家能达到金线测试要求的厂商,市面上大部分用的均是英国进口DAGE-4000或日本岛津公司和美国英斯特朗的试验机,我们公司工程师经过多年努力,研制的金线拉力试验机已在国内外多家公司广泛使用。
半导体封装测试设备led推拉力测试机性能特点
采用计算机,提高控制精度和系统抗干扰能力。
采用日本松下伺服和精密调速系统、ABBA高精度无间隙线性导轨, 
试验过程中可根据试验力和变形的大小自动变换量程。
试验过程中,力、变形数据的动态显示。
具有恒速、定负荷、定行程等控制方式。
可选择应力-应变、力-伸长、力-时间等多种试验曲线。
自动求出材料抗拉强度,延伸率等力学参数。
试验条件、测试结果、标距位置自动存储。
可细微调整移动横梁位置,方便进行标校验
具有过载、过流、过压、过速、欠压、行程等多种安全保护方式。                    
试验结束后,可打印批试样报告和单件试样曲线。 
软件方便地为用户添加特殊的功能模块。
可按用户需求输出不同的报告格式。
享受终身服务,免费软件升级。
Windows2000(XP)下控制软件,人机界面友好,已有的测量数据和结果均可储存,分类,查询和打印,
并可按用户的要求打印输出报告(或用户提供报告格式)
试验完毕后,即可进行试验数据的分析,从而得到试样的抗拉强度,延伸率等力学性能指示。
该机精度高、量程范围宽、试验空间宽、性能稳定、可靠。
各项性能指标都满足我国GB/T16491《电子式*试验机》标准。
半导体封装测试设备led推拉力测试机技术参数
设备型号:LB-8100A
外形尺寸:650mm*600mm*760mm(含左右操作手柄)
设备重量:约 80KG
电源供应:110V/220V@3.0A 50/60HZ
气压供应:4.5-6Bar
控制电脑:联想/惠普原装PC
电脑系统:Windows7/Windowsl0 正版系统
显微镜:标配高清连续变倍显微镜(可选配三目显微镜+高清CCD相机)
传感器更换方式:手动更换(根据测试需要选择相应的测试模组,软件自动识别模组量程)
平台治具:360度旋转,平台可共用各种测试治具
XY轴丝杆有效行程:100mm* 100mm 配真空平台可拓展至200mm*200mm,大测试力200KG
XY轴大移动速度:采用霍尔摇杆对XY轴自由控制,大移动速度为6mm/S
XY轴丝杆精度:重复精度±5um 分辨率≤0.125 : 2mm以内精度±2um
Z轴丝杆有效行程:100mm 分辨率≤0.125um,大测试力20KG
Z轴大移动速度:采用霍尔摇杆对Z轴自由控制,大移动速度为8mm/S
Z轴丝杆精度:±2um 剪切精度:2mm以内精度±2um
传感器精度:传感器精度土0.003%:综合测试精度土0.25%
设备治具:根据样品或图纸按产品设计治具(出厂标配一套)
设备校正:设备出厂标配相应校正治具及砝码一套
质量保证:设备整机质保2年,软件身免费升级(人为损坏不含)
半导体封装测试设备led推拉力测试机使用说明
a.测力感测器:10N   一个
b.使用说明书一份
c.产品质量保固书一份
d.微电脑液晶显示器一个
e. 中英文金线测试软件一套(随时根据客户要求升级改版,且不收任何费用)
半导体封装测试设备led推拉力测试机采购须知
在现代工业领域,推拉力测试机是一种重要的测试设备,广泛应用于材料力学性能测试、产品质量控制以及研发领域。本文将介绍推拉力测试机的优势,并探讨其在不同领域的应用。

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