探针 BGA在线测试探针 高频测试针 026系列5.7mm 双头弹簧探针 芯片测试探针 加工定制
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产品详情
“探针 BGA在线测试探针 高频测试针 026系列5.7mm 双头弹簧探针 芯片测试探针 加工定制”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 认证： | 2009 |
| 类型： | 探针 | 材质： | 高碳钢、镍上镀金、镀镍 |
| 型号： | SCPA026-XX-5.7-0.3GG | 规格： | 0.26mm |
| 商标： | 先得利探针/centalic | 寿命： | 10，0000cycles |
| 额定行程： | 0.65mm | 测试中心距： | 0.35mm |
| 额定电流： | 0.5amps | 常规头型： | B,J,J1,U,U1等 |
| 总长： | 5.7mm | 满行程： | 1.1mm |
| 直径： | 0.26mm | 产量： | 9999851 |
“探针 BGA在线测试探针 高频测试针 026系列5.7mm 双头弹簧探针 芯片测试探针 加工定制”详细介绍
半导体高频测试针,简称“高频针”,俗称“双头弹簧针”或”双头针”，该系列产品常用针头头型有：B,J,J1,U,U1等，体积细小，测试精度要求较高。针管外径 加工Φ0.15mm，Φ0.20mm 。 该系列针外径0.26mm，总长5.7mm，多种头型可供选择。其主要用于半导体及手机通讯设备频率 测试领域。如手机、手提电脑、智能手表等智能通讯电子及其部件（屏、摄像头、主板、内存、芯片）等频率测试。具体参数详情如下：
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