盲孔塞规BMD diatest盲孔电子塞规测量仪Mahr/马尔

电子测量 10-2系列盲孔塞规式电子测量

该量仪属于比对法测量，可快速 测量孔内几何形状，自定中心，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件

DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计，保证了测量结果的可能性，解决了孔径测量的对中难题，限度减少了人为因素测量结果的影响，可方便、快速、准确得出测量结果。

测头为非标定制，按图纸及使用要求加工制作！

• 1.塞规式测量系统是直接测量吗?

  答：比较法测量，需要配校对环规。使用校对环规进行零点校准，校对环规的尺寸与孔的***小尺寸相关，如此可以确保在校准过程中 的减小的轴向和径向的误差。遵循DIN2250-C标准的环规是***适合的校对环规，较大尺寸的环规或***小尺寸、中间尺寸和尺寸的校对环规通常是不需要的。

• 2.塞规式测量仪的测量范围是多少？

  塞规式测量仪的测量范围适用于2.0mm-330mm，但是并不是说一个测头就可以适用这么大的范围。塞规式测头是一对一的，例如您测量10mm，那您就需要选择一个10mm的测头测量，单个测头的标准测量范围根据具体尺寸会有不同：2.0-9.0mm（4系列）的测量范围是0.1mm、7.0-20.0mm（6系列）的测量范围是0.15mm，20-330mm（10系列）的测量范围是0.2mm。

• 3.测量范围是固定的吗？

  塞规式测量仪的测量范围适用于2.0mm-330mm，但是并不是说一个测头就可以适用这么大的范围。塞规式测头是一对一的，例如您测量10mm，那您就需要选择一个10mm的测头测量，单个测头的标准测量范围根据具体尺寸会有不同：2.0-9.0mm（4系列）的测量范围是0.1mm、7.0-20.0mm（6系列）的测量范围是0.15mm，20-330mm（10系列）的测量范围是0.2mm。

• 4.选择测头尺寸时，怎样确保选择尺寸的正确性，能保证肯定满足测量吗？

  选择测头尺寸时，请您提供工件的公差带及孔的形式。测头的尺寸是按照公差带的下限选定的。具体生产的测头尺寸会按照您公差带下限进行加工，加工时的公差带都是减公差，保证测头能放到工件内进行测量。

• 5.塞规式测量仪测头的形式如何选择？

  塞规式测头一般分为标准孔测头、通孔测头和盲孔测头。您可以根据要测量孔的深度来确定塞规头的形式，如果要测量位置非常靠近根部，可以选用盲孔测头；如果是盲孔，但是不要求测点位置很低，那标准测头就可以满足要求；如果要测量通孔的孔口位置，选用通孔测头。根据测量需求的不同，我们还有其他形式的测头，如加长导向体测头、自动测量用测头等。

• 6.塞规式测头的测点是什么材质的？

  如无特殊说明，塞规式测头的测点是硬质合金材质的。根据测量工件的材质不同，我们可以提供陶瓷测点、红宝石测点、钻石测头、塑料测点等等以满足客户的不同测量需求。

• 7.塞规式测量仪需要其他附件吗？

  塞规式测量仪的标准构成是手柄、显示表、塞规式测头和校对环规。根据客户测量需要和环境的不同，我们可以提供标准附件延长杆以加大测量深度、也可以提供深度限位实现方便测量。同时我们也有电子手柄可以接传感器，可以实现台式测量等。塞规式测量仪的柔性很好，可以满足不同的测量需求。

• 8.测量数据可以传输给电脑吗？

  可以。该系统可以通过有线或无线两种方式把测量数据传输给计算机、电子柱、电箱、Metro的M3显示仪及其它显示装置，并生成SPC图形。