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TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪
  • TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪
产品属性:
是否有现货:否 | 品牌:Kore | 加工定制:是 | 类型:多元素分析仪器 | 元素:电脑多元素分析仪 | 测试范围:>1000 amu,~10,000 am | 测量时间:1min | 电源电压:220-240V | 适用范围:表面化学,黏附力,表面改性,印刷适性 | 型号:Surfaceseer s
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