TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪
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产品详情
“TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪”参数说明
是否有现货: | 否 | 品牌: | Kore |
加工定制: | 是 | 类型: | 多元素分析仪器 |
元素: | 电脑多元素分析仪 | 测试范围: | >1000 amu,~10,000 am |
测量时间: | 1min | 电源电压: | 220-240V |
适用范围: | 表面化学,黏附力,表面改性,印刷适性 | 型号: | Surfaceseer s |
规格: | 台 | 商标: | Kore |
“TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪”详细介绍
Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS (飞行时间二次离子质谱仪) 系列中,是一款经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成 分的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。
Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束(可选惰 性气体Ar+),该离子束是脉冲式的,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100μs TOF 循环中,该离子 的脉冲时间仅为60ns,因此,主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限,需要在一个点上进行几分钟的分析,在这个点上,表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低,这款TOF分析仪还是 的,这就说明了它具有较高的二次离子数据速率(即使在离子产率相对较低 的聚合物上,也通常为5000 c/s)。
SurfaceSeer S 仪器特点:
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配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤,实现样品“无损”分析;
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针对工业领域的成本TOF-SIMS仪器;
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均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ;
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可在1~2min内实现尊龙人生就是搏网站率的正负质谱分析;
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质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM);
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适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。
SurfaceSeer S 应用领域:
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表面化学
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黏附力
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分层
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印刷适性
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表面改性
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等离子体处理
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痕量分析(表面ppm)
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催化剂
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同位素分析
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表面污染
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