SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪
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产品详情
“SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪”参数说明
是否有现货: | 是 | 品牌: | Phasics |
加工定制: | 否 | 测量范围: | 0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm) |
测量精度: | 15nm RMS | 分辨率: | 60 μm |
用途: | 适用于光通信,夜视和其他 事和监视设备 | 型号: | SID4-SWIR-HR |
规格: | SID4-SWIR-HR | 包装: | 纸箱包装 |
采样频率: | 120 fps | 尺寸(w x h x l): | 100 x 55 x 63 mm |
重量: | 455g | 动态范围: | 100μM |
“SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪”详细介绍
SID4-Swir-HR波前传感器
基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7?m,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir
特点:
由于其 的专利技术技术,Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:160x128测量点
2.高灵敏密度:整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差:0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm)
4.紧凑:易于集成
应用:
透镜测试:SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信,夜视和其他 事和监视设备。无色差,SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试:SID4 SWIR也可以短波红外光源,像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-Swir产品参数:
波长范围 |
0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm) |
通光孔径 |
9.6 x 7.68 mm2 |
空间分辨率 |
60 ?m |
采样点(相位/强度) |
160 x 128 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 |
<2nm RMS |
相位精度 |
15nm RMS |
动态范围 |
100μM |
采样频率 |
120 fps |
实时分析频率 |
7 fps (full resolution) |
数据接口 |
Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) |
100 x 55 x 63 mm |
重量 |
455g |
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