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高分辨率飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
  • 高分辨率飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
产品属性:
是否有现货:否 | 品牌:Kore | 加工定制:是 | 类型:多元素分析仪器 | 元素:电脑多元素分析仪 | 测试范围:>1000m/z,~10,000 amu | 测量时间:1min | 测量精度:±0.002 amu | 电源电压:220-240V | 型号:Surfaceseer I
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